收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 13388-1992 硅片参考面结晶学取向Ｘ射线测量方法
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
起草单位：
北京有色金属研究总院
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
相关人员
关联标准
-
GB/T 11112-1989
有色金属大气腐蚀试验方法
-
GB/T 1557-2006
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
-
YS/T 1065.1-2015
沸石物理性能测定方法 第1部分：钙交换能力的测定 EDTA滴定法
-
DB53/T 748-2016
云南省工业硅粉粒度的测定 自动振筛法
-
GB/T 12966-1991
铝合金电导率涡流测试方法
-
GB/T 31780-2015
临界温度测量 电阻法测复合超导体临界温度
-
YS/T 1002-2014
铝电解阳极效应系数和效应持续时间的计算方法
-
GB/T 1550-2018
非本征半导体材料导电类型测试方法
-
GB/T 6624-1995
硅抛光片表面质量目测检验方法
-
GB/T 6524-2003
金属粉末 粒度分布的测量 重力沉降光透法
-
YB/T 5360-2006
金属材料定量极图的测定
-
YS/T 535.5-2009
氟化钠化学分析方法 第5部分：可溶性硫酸盐含量的测定 浊度法
-
GB/T 20831-2007
电工钢片（带）层间绝缘涂层温度特性测试方法
-
GB/T 18036-2000
铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法
-
GB/T 351-2019
金属材料 电阻率测量方法
-
GB/T 16596-1996
确定晶片坐标系规范
-
GB/T 3656-1983
电工用纯铁磁性能测量方法
-
GB/T 19289-2019
电工钢带（片）的电阻率、密度和叠装系数的测量方法
-
GB/T 5167-2018
烧结金属材料和硬质合金 电阻率的测定
-
SN/T 2082-2008
冷轧薄钢板洛氏硬度（HRB）试验方法
打开设置，点击
执行注册
