收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 13388-1992 硅片参考面结晶学取向Ｘ射线测量方法
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
起草单位：
北京有色金属研究总院
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
相关人员
关联标准
-
YS/T 23-2016
硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
-
GB/T 30653-2014
Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法
-
GB/T 2596-1981
钨粉、碳化钨粉比表面积 (平均粒度) 测定(简化氮吸附法)
-
GB 11107-1989
金属及其化合物粉末 比表面积和粒度测定 空气透过法
-
GB/T 21546-2008
铌钛复合超导体的直流临界电流测量
-
YS/T 455.3-2003
铝箔试验方法 第3部分：铝箔粘附性试验方法
-
YS/T 1065.3-2015
沸石物理性能测定方法 第3部分：灼烧失量的测定 重量法
-
GB/T 15250-1994
压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
-
YS/T 784-2012
铝电解槽技术参数测量方法
-
GB/T 24488-2009
镁合金牺牲阳极电化学性能测试方法
-
GB/T 19346.3-2021
非晶纳米晶合金测试方法 第3部分：铁基非晶单片试样交流磁性能
-
GB/T 10129-1988
电工钢片(带)中频磁性能测量方法
-
GB/T 3655-1992
电工钢片(带)磁、电和物理性能测量方法
-
GB/T 6617-1995
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
-
GB/T 1553-1997
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
-
GB/T 24297-2009
热双金属螺旋形元件热偏转率试验方法
-
GB/T 40380.1-2021
金属粉末 高温时松装密度和流速的测定 第1部分：高温时松装密度的测定
-
YS/T 455.6-2003
铝箔试验方法 第6部分：铝箔其它相关试验方法
-
GB/T 38804-2020
金属材料高温蒸汽氧化试验方法
-
GB/T 12967.4-1991
铝及铝合金阳极氧化 着色阳极氧化膜耐紫外光性能的测定
打开设置，点击
执行注册
