收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 14264-1993 半导体材料术语
Semiconductor materials--Terms and definitions
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
半金属与半导体材料综合（H80）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
-
起草单位：
中国有色金属总公司标准所
相关人员
关联标准
-
GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范
-
GB/T 24574-2009
硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
-
GB/T 24581-2009
低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
-
YS/T 986-2014
晶片正面系列字母数字标志规范
-
GB/T 1554-2009
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
-
GB/T 29505-2013
硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
-
GB/T 6621-2009
硅片表面平整度测试方法
-
GB/T 14141-2009
硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
-
GB/T 25076-2010
太阳电池用硅单晶
-
GB/T 6624-2009
硅抛光片表面质量目测检验方法
-
GB/T 16595-2019
晶片通用网格规范
-
GB/T 6618-2009
硅片厚度和总厚度变化测试方法
-
GB/T 24576-2009
高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
-
GB/T 6616-2009
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
-
GB/T 13387-2009
硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
-
GB/T 24579-2009
酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
-
YS/T 838-2012
碲化镉
-
YS/T 28-2015
硅片包装
-
GB/T 35316-2017
蓝宝石晶体缺陷图谱
-
GB/T 4061-2009
硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
打开设置，点击
执行注册
