收藏到云盘
纠错反馈
YS/T 226.10-1994 硒中硫量的测定(蒸馏还原吸光光度法)
Determination of sulphur content in selenium--Distillation-reduction photometric method
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料化学分析（77.040.30）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属化学分析方法（H10/19）
半金属及半导体材料分析方法（H17）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 25934.1-2010e
高纯金化学分析方法 第1部分：乙酸乙酯萃取分离-ICP-AES法 测定杂质元素的含量
-
YS/T 426.1-2000
锑铍芯块化学分析方法 氟化钾滴定法测定铍量
-
YS/T 35-2012
高纯锑化学分析方法 镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、硒含量的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法
-
YS/T 373.11-1994
银铜锡合金化学分析方法
-
YS/T 273.2-1994
天然和人造冰晶石化学分析方法 电量法测定水分含量
-
GB/T 20127.9-2006
钢铁及合金 痕量元素的测定 第9部分：电感耦合等离子体发射光谱法测定钪含量
-
YS/T 424.2-2000
二硼化钛粉末化学分析方法 总硼量的测定
-
YS/T 372.1-2006
贵金属合金元素分析方法 银量的测定 碘化钾电位滴定法
-
GB/T 12582-1990
液态烃类电导率测定法 (精密静电计法)
-
GB/T 3253.4-2001
锑化学分析方法 硫量的测定
-
YS/T 716.2-2009
黑铜化学分析方法 第2部分：金和银量的测定 火试金法
-
YS/T 987-2014
氯硅烷中碳杂质的测定方法——甲基二氯氢硅的测定
-
SN/T 1650-2005
金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
-
YS/T 424.5-2000
二硼化钛粉末化学分析方法 氧量的测定
-
YS/T 445.5-2001
银精矿化学分析方法 硫量的测定
-
GB/T 225-2006
钢 淬透性的末端淬火试验方法（Jominy 试验）
-
YB/T 5044-1993
氧化钼块化学分析方法 苯基荧光酮光度法测定锡
-
GB/T 11073-2007
硅片径向电阻率变化的测量方法
-
YS/T 426.2-2000
锑铍芯块化学分析方法 溴酸钾滴定法测定锑量
-
GB/T 25934.3-2010e
高纯金化学分析方法 第3部分：乙醚萃取分离-ICP-AES法 测定杂质元素的含量
打开设置，点击
执行注册
