收藏到云盘
纠错反馈

YS/T 224-1994 铊

Thallium
基本信息
  • 标准号:
    YS/T 224-1994
  • 名称:
    铊
  • 英文名称:
    Thallium
  • 状态:
    被代替
  • 类型:
    暂无
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    暂无
  • 实施日期:
    1993-03-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    修订公告【2016年第11号(总第203号)】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    【 电气工程(29) 半导体材料(29.045) 】
  • CCS分类:
    【 冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 半金属(H81) 】
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
关联标准
  • YS/T 43-2011 高纯砷
  • GB/T 12962-1996 硅单晶
  • GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
  • GB/T 14139-2009 硅外延片
  • GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱
  • SJ/T 11505-2015 蓝宝石单晶抛光片规范
  • GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
  • GB/T 24576-2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
  • GB/T 35307-2017 流化床法颗粒硅
  • YS/T 651-2007 二氧化硒
  • YS/T 979-2014 高纯三氧化二镓
  • GB/T 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
  • SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
  • GB/T 12962-2015 硅单晶
  • GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
  • GB/T 20228-2006 砷化镓单晶
  • GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块
  • GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
  • GB/T 32277-2015 硅的仪器中子活化分析测试方法
  • GB/T 37053-2018 氮化镓外延片及衬底片通用规范
用户分享资源

YS/T 224-1994 铊

Thallium
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
YS/T 224-1994 铊
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com