收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 14112-1993 半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
Semiconductor integrated circuits--Specification for stamped leadframes of plastic DIP
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
微电路综合（L55）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
起草单位：
上海无线电十九厂
相关人员
关联标准
-
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 34898-2017
微机电系统（MEMS）技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
-
GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
-
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
-
SJ 52438/14-2004
混合集成电路HPA501J型功率放大器详细规范
-
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
-
DB44/T 633-2009
广东省锂离子电池保护电路板技术要求
-
SJ/Z 11351-2006
用于描述、选择和转让的集成电路IP核属性格式标准
-
GB/T 28275-2012
硅基MEMS制造技术 氢氧化钾腐蚀工艺规范
-
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
-
GB/T 14027.5-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种
-
GB/T 17574.10-2003
半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
-
GB/T 26111-2010
微机电系统（MEMS）技术 术语
-
GB/T 35002-2018
微波电路 频率源测试方法
-
GB/T 15861-1995
离子束蚀刻机通用技术条件
-
GB/T 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
-
GB/T 14119-1993
半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用)
-
SJ 20802-2001
集成电路金属外壳目检标准
-
GB/T 14028-1992
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
-
SJ/T 10804-2000
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
打开设置，点击
执行注册
