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GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 14032-1992
  • 名称：
    半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
  • 英文名称：
    General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1992-12-17
  • 实施日期：
    1993-08-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
  • 起草单位：
    上海件五厂
相关人员
暂无
关联标准