收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits基本信息
- 标准号:GB/T 14029-1992
- 名称:半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
- 英文名称:General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:1992-12-17
- 实施日期:1993-08-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:暂无
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:暂无
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
- 起草单位:上海件五厂
相关人员
暂无
关联标准
- SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
- GB/T 28274-2012 硅基MEMS制造技术 版图设计基本规则
- GB/T 6800-1986 半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理
- GB/T 32817-2016 半导体器件 微机电器件 MEMS总规范
- GB/T 12750-2006 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
- GB/T 16524-1996 光掩模对准标记规范
- SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南
- SJ/T 11708-2018 功率电机驱动器测试方法
- GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
- GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
- GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法
- GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
- SJ 50597/61-2005 半导体集成电路JW1083/JW1084/JW1085/JW1086型三端可调正输出低压差电压调整器详细规范
- GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
- GB/T 14027.5-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种
- GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
- GB/T 6814-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种
- GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种
- GB/T 11497.2-1989 半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HCT 系列的品种
- GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法