收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门:
工业和信息化部(电子)
-
起草单位:
上海件五厂
相关人员
关联标准
-
GB/T 12844-1991
半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种
-
GB/T 12842-1991
膜集成电路和混合膜集成电路术语
-
GB/T 35010.8-2018
半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
-
GB/T 3430-1989
半导体集成电路型号命名方法
-
GB/T 14862-1993
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
-
GB/T 12084-1989
半导体集成电路TTL 电路系列和品种 54/74F系列的品种
-
GB/T 15879.5-2018
半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
-
GB/T 34900-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
-
GB/T 35010.6-2018
半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
-
GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
-
GB/T 38341-2019
微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
-
GB/T 34898-2017
微机电系统(MEMS)技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
-
GB/T 36614-2018
集成电路 存储器引出端排列
-
GB/T 5965-2000
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范
-
GB/T 33657-2017
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
-
SJ/Z 11360-2006
集成电路IP核信号完整性规范
-
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
-
GB/T 16527-1996
硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范
-
SJ/Z 11357-2006
集成电路IP核软核、硬核的结构、性能和物理建模规范
-
SJ 50597/60-2004
半导体集成电路 JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范