收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 14027.5-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种
Series and productsof communication circuits for semiconductor integrated circuits--Products of telephone circuits基本信息
- 标准号:GB/T 14027.5-1992
- 名称:半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种
- 英文名称:Series and productsof communication circuits for semiconductor integrated circuits--Products of telephone circuits
- 状态:废止
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:1992-12-17
- 实施日期:1993-08-01
- 废止日期:2004-10-14
- 相关公告:暂无
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本标准规定了半导体集成电路电自豪感电路(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门:信息产业部(电子)
- 起草单位:上海无线电十四厂
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
- GB/T 20296-2006 集成电路记忆法与符号
- SJ 20073-1992 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范
- GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法
- GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
- GB/T 3432.2-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74H系列的品种
- GB/T 9178-1988 集成电路术语
- SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
- GB/T 34899-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
- GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
- SJ/Z 11351-2006 用于描述、选择和转让的集成电路IP核属性格式标准
- GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
- GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范
- GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
- GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
- GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
- GB/T 35002-2018 微波电路 频率源测试方法
- GB/T 15877-2013 半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范
- YD/T 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法
- GB/T 35001-2018 微波电路 噪声源测试方法