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GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
Silicon epitaxial layers--Determination of carrier concentration--Mercury probe Valtage-capacitance method
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
-
起草单位：
上海市有色金属总公司
相关人员
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