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GB/T 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法

Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contract microscopy
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 14145-1993
  • 名称：
    硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法
  • 英文名称：
    Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contract microscopy
  • 状态：
    废止
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1993-02-06
  • 实施日期：
    1993-10-01
  • 废止日期：
    2004-10-14
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB 2828
  • 采用标准：
    ASTM F522-84 （非等效采用 NEQ）
相关部门
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 归口单位：
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 起草单位：
    上海有色金属研究所
相关人员
暂无
关联标准