收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法
Silicon slices and wafers--Measuring of diameter--Micrometer method
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料试验综合（77.040.01）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】、
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
半金属（H81）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
-
起草单位：
洛阳单晶硅厂
相关人员
关联标准
-
GB/T 22638.7-2008
铝箔试验方法 第7部分：热封强度的测定
-
GB/T 1552-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
-
GB/T 13390-1992
金属粉末比表面积的测定 氮吸附法
-
GB/T 3172-1982
铝粉附着率的测定 钢片试验法
-
GB/T 8646-1998
半导体键合铝-1%硅细丝
-
GB/T 38786-2020
镁及镁合金铸锭纯净度检验方法
-
GB/T 3173-1982
铝粉盖水面积的测定
-
YS/T 1161.1-2016
拟薄水铝石分析方法 第1部分：胶溶指数的测定 EDTA容量法
-
GB/T 30653-2014
Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法
-
GB/T 22586-2008
高温超导薄膜微波表面电阻测试
-
GB/T 12967.5-1991
铝及铝合金阳极氧化 用变形法评定阳极氧化膜的抗破裂性
-
YS/T 617.3-2007
铝、镁及其合金粉理化性能测定方法 第3部分: 水分的测定 干燥失重法
-
GB/T 5252-2020
锗单晶位错密度的测试方法
-
GB/T 3656-1983
电工用纯铁磁性能测量方法
-
GB/T 15250-1994
压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
-
GB/T 11112-1989
有色金属大气腐蚀试验方法
-
GB/T 18876.1-2002
应用自动图像分析测定钢和其他金属中金相组织、夹杂物含量和级别的标准试验方法 第1部分:钢和其他金属中夹杂物或第二相组织含量的图像分析与体视学测定
-
GB/T 34612-2017
蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
-
GB/T 6522-1986
氧化铝粉末松装密度的测定
-
YS/T 724-2009
硅粉
打开设置，点击
执行注册
