收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法
Silicon slices and wafers--Measuring of diameter--Optical projecting method
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料试验综合（77.040.01）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】、
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
半金属（H81）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
-
起草单位：
洛阳单晶硅厂
相关人员
关联标准
-
GB/T 13300-1991
高电阻电热合金快速寿命试验方法
-
GB/T 30537-2014
超导电性 块状高温超导体的测量 大晶粒氧化物超导体的俘获磁通密度
-
GB/T 22638.10-2016
铝箔试验方法 第10部分：涂层表面密度的测定
-
GB/T 5252-2006
锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
-
GB 11093-1989
液封直拉法砷化镓单晶及切割片
-
GB/T 8758-2006
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
-
DB36/T 935-2017
江西省钢结构输电塔安全检测技术规程
-
GB/T 1479-1984
金属粉末松装密度的测定 第一部分 漏斗法
-
GB/T 6616-1995
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法
-
GB/T 36705-2018
氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法
-
GB/T 3656-2008
软磁材料矫顽力的抛移测量方法
-
GB/T 32280-2022
硅片翘曲度和弯曲度的测试 自动非接触扫描法
-
GB/T 2523-2022
冷轧金属薄板和薄带表面粗糙度、峰值数和波纹度测量方法
-
YS/T 581.12-2006
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第12部分：粒度分布的测定——筛分法
-
GB/T 34482-2017
建筑用铝合金隔热型材传热系数测定方法
-
GB/T 8643-2021
含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定 索格利特（Soxhlet）萃取法
-
GB/T 8753.3-2005
铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第3部分:导纳法
-
GB/T 28871-2012
铌三锡（Nb3Sn）复合超导体的直流临界电流测量
-
GB/T 4059-1983
硅多晶气氛区熔磷检验方法
-
GB/T 4193-1984
电真空器件及电光源用细钨丝、钼丝和薄带密度的测试方法
打开设置，点击
执行注册
