收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 14849.2-1993 工业硅化学分析方法 铬天青-S分光光度法测定铝量
Silicon metal--Determination of aluminium content--Chrome azurol S spectrophotometric method
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属化学分析方法（H10/19）
半金属及半导体材料分析方法（H17）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
-
引用标准：
GB 1.4
GB 1467
GB 7729
相关部门
-
主管部门：
中国有色金属工业协会
-
归口单位：
全国有色金属标准化技术委员会
-
起草单位：
抚顺铝厂
相关人员
关联标准
-
YS/T 227.11-1994
碲中硅量的测定(正丁醇萃取硅钼蓝吸光光度法)
-
YS/T 984-2014
硅粉化学分析方法 硼、磷含量的测定
-
YS/T 34.4-1992
高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量
-
GB/T 37211.2-2018
金属锗化学分析方法 第2部分：铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
-
YS/T 37.1-2018
高纯二氧化锗化学分析方法 硝酸银比浊法测定氯量
-
YS/T 226.4-1994
硒中铝量的测定(铬天青S-溴代十六烷基吡啶吸光光度法)
-
GB/T 14849.3-2020
工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定
-
YS/T 37.2-2018
高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量
-
GB/T 39145-2020
硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
-
YS/T 37.2-1992
高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量
-
YS/T 227.2-1994
碲中铝量的测定(铬天青S--溴代十四烷基吡啶胶束增溶吸光光度法)
-
YS/T 519.1-2006
砷化学分析方法 溴酸钾容量法测定砷量
-
GB/T 8758-2006
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
-
YS/T 980-2014
高纯三氧化二镓杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
-
GB/T 11068-2006
砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
-
GB/T 4298-1984
半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法
-
GB/T 4373.2-1984
砷化学分析方法 孔雀绿光度法测定锑量
-
GB/T 26074-2010
锗单晶电阻率直流四探针测量方法
-
GB/T 35309-2017
用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
-
YS/T 226.11-1994
硒中镁、铜、铁、镍量的测定(原子吸收分光光度法)
打开设置，点击
执行注册
