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SJ/T 10482-1994 半导体深能级的瞬态电容测试方法
Test method for characterizing semiconductor deep levels by transient capacitance techniques
基本信息
分类信息
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ICS分类:
暂无
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CCS分类:
【
能源、核技术(F)
能源、核技术综合(F00/09)
技术管理(F01)
】
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