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GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 14863-1993
  • 名称：
    用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
  • 英文名称：
    Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
  • 状态：
    废止
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1993-12-30
  • 实施日期：
    1994-10-01
  • 废止日期：
    2014-08-15
  • 相关公告：
    修订公告【关于批准发布《化学试剂甲醛溶液》等567项国家标准和45项国家标准样品的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    SJ 1550
相关部门
  • 归口单位：
    工业和信息化部（电子）
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
  • 起草单位：
    机械电子工业部所和所
相关人员
暂无
关联标准