收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法
Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
-
起草单位：
电子部标准化所
相关人员
关联标准
-
YB/T 4148-2006
电工钢片（带）小单片试样磁性能测量方法
-
DB53/T 748-2016
云南省工业硅粉粒度的测定 自动振筛法
-
GB/T 17473.3-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
-
GB/T 17473.2-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
-
GB/T 1425-1996
贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法
-
GB/T 4193-1984
电真空器件及电光源用细钨丝、钼丝和薄带密度的测试方法
-
GB/T 40380.2-2021
金属粉末 高温时松装密度和流速的测定 第2部分：高温时流速的测定
-
YS/T 1256-2018
有色金属材料 比热容试验 差示扫描量热法
-
GB/T 23605-2020
钛合金β转变温度测定方法
-
GB/T 40279-2021
硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
-
GB/T 13390-1992
金属粉末比表面积的测定 氮吸附法
-
GB/T 6619-1995
硅片弯曲度测试方法
-
GB/T 1557-1989
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
-
GB/T 6526-1986
自熔合金粉末固-液相线温度区间的测定方法
-
GB/T 37213-2018
硅晶锭尺寸的测定 激光法
-
GB/T 30860-2014
太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
-
GB/T 37561-2019
难熔金属及其化合物粉末在粒度测定之前的分散处理规则
-
YS/T 629.2-2007
高纯氧化铝化学分析方法 三氧化二铁含量的测定 甲基异丁酮萃取邻二氮杂菲光度法
-
YS/T 438.5-2013
砂状氧化铝物理性能测定方法 第5部分：X-射线衍射法测定α-氧化铝含量
-
YB 933-1978
热偶丝材热电势的测量方法--熔丝法
打开设置，点击
执行注册
