收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
-
起草单位：
电子部标准化所
相关人员
关联标准
-
GB/T 4107-2004
镁粉松装密度的测定 斯科特容量法
-
GB/T 3171.2-1982
铝粉松装密度的测定 容量计法
-
GB/T 6619-1995
硅片弯曲度测试方法
-
GB/T 30857-2014
蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
-
YS/T 535.2-2009
氟化钠化学分析方法 第2部分：氟含量的测定 蒸馏-硝酸钍滴定容量法
-
YS/T 1166-2016
高纯四氯化锗红外透过率的测定方法
-
YS/T 581.3-2006
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第3部分：蒸馏——硝酸钍容量法测定氟含量
-
YB/T 5320-2006
金属材料定量相分析 X射线衍射K值法
-
GB/T 11108-1989
硬质合金热扩散率的测定方法
-
GB/T 6621-1995
硅抛光片表面平整度测试方法
-
GB/T 6147-2005
精密电阻合金热电动势率 测试方法
-
YS/T 1258-2018
有色金属材料 熔融和结晶温度试验 热分析方法
-
YS/T 1161.1-2016
拟薄水铝石分析方法 第1部分：胶溶指数的测定 EDTA容量法
-
YS/T 738.4-2010
填料用氢氧化铝分析方法 第4部分：粘度的测定
-
YS/T 629.3-2007
高纯氧化铝化学分析方法 氧化钠含量的测定 火焰原子吸收光谱法
-
GB/T 34190-2017
电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法
-
GB/T 37207-2018
镍钴锰酸锂电化学性能测试 放电平台容量比率及循环寿命测试方法
-
YS/T 273.8-2006
冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第8部分：硫酸钡重量法测定硫酸根含量
-
YS/T 535.5-2009
氟化钠化学分析方法 第5部分：可溶性硫酸盐含量的测定 浊度法
-
GB/T 6526-1986
自熔合金粉末固-液相线温度区间的测定方法
打开设置，点击
执行注册
