收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 4058-1995 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料化学分析（77.040.30）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属无损检验方法（H26）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
-
起草单位：
峨嵋半导体材料厂
相关人员
关联标准
-
GB/T 1482-1984
金属粉末流动性的测定 标准漏斗法 (霍尔流速计)
-
YS/T 473-2005
工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法
-
YS/T 364-2006
纯铱中杂质元素的发射光谱分析
-
JB/T 6065-1992
磁粉探伤用标准试片
-
YB/T 4376-2014
轨道交通车轮磁粉探伤方法
-
NB/T 47013.2-2015
承压设备无损检测 第2部分:射线检测
-
YS/T 372.4-2006
贵金属合金元素分析方法 铜量的测定 硫脲析出EDTA络合滴定法
-
YB/T 109.1-1997
硅钡合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量
-
YS/T 248.2-1994
粗铅化学分析方法 邻苯二酚紫光度法测定锡量
-
YS/T 227.8-1994
碲中镁、钠量的测定(原子吸收分光光度法)
-
YS/T 423.1-2000
核极碳化硼粉末化学分析方法 总硼量的测定
-
GB/T 11108-1989
硬质合金热扩散率的测定方法
-
GB/T 8760-1988
砷化镓单晶位错密度的测量方法
-
YS/T 227.4-1994
碲中铁量的测定(邻菲啰啉吸光光度法)
-
GB/T 15711-1995
钢材塔形发纹酸浸检验方法
-
YS/T 226.1-1994
硒中铋量的测定(碘化钾、硫脲、马钱子碱吸光光度法)
-
GB/T 21994.5-2008
氟化镁化学分析方法 第5部分：钙含量的测定 火焰原子吸收光谱法
-
YS/T 34.1-2011
高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定高纯砷中杂质含量
-
DB15/T 1240-2017
内蒙古自治区硅粉中铁、铝、钙、钛、硼、磷含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
-
GB/T 11067.5-2006
银化学分析方法 铅和铋量的测定 火焰原子吸收光谱法
打开设置，点击
执行注册
