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GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法

Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 5201-1994
  • 名称：
    带电粒子半导体探测器测试方法
  • 英文名称：
    Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors
  • 状态：
    废止
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1994-12-22
  • 实施日期：
    1995-10-01
  • 废止日期：
    2012-11-01
  • 相关公告：
    修订公告【关于批准发布《三相异步电动机试验方法》等352项国家标准和45项国家标准样品的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 代替标准：
    GB 5201-1985
相关部门
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 归口单位：
    全国核仪器仪表标准化技术委员会
  • 起草单位：
    北京核仪器厂
相关人员
暂无
关联标准