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GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法
Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
计量学和测量、物理现象（17）
辐射测量（17.240）
】
-
CCS分类：
【
能源、核技术（F）
核仪器与核探测器（F80/89）
核仪器与核探测器综合（F80）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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主管部门：
国家标准化管理委员会
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归口单位：
全国核仪器仪表标准化技术委员会
-
起草单位：
北京核仪器厂
相关人员
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