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GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法
Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
计量学和测量、物理现象(17)
辐射测量(17.240)
】
-
CCS分类:
【
能源、核技术(F)
核仪器与核探测器(F80/89)
核仪器与核探测器综合(F80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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主管部门:
国家标准化管理委员会
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归口单位:
全国核仪器仪表标准化技术委员会
-
起草单位:
北京核仪器厂
相关人员
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