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GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
半导体分立器件（31.080）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
半导体分立器件（L40/49）
半导体分立器件综合（L40）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
起草单位：
上海市电子仪表计量测试所
相关人员
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