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GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法

Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 4937-1995
  • 名称：
    半导体器件机械和气候试验方法
  • 英文名称：
    Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
  • 状态：
    废止
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1995-12-22
  • 实施日期：
    1996-08-01
  • 废止日期：
    2007-02-01
  • 相关公告：
    修订公告【】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 代替标准：
    GB 4937-1985
  • 引用标准：
    GB 2421-89 GB 2423 GB 2424 GB 5169.5-82 IEC 747 IEC 748
  • 采用标准：
    IEC 749:1995 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
  • 起草单位：
    上海市电子仪表计量测试所
相关人员
暂无
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