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YD/T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法

基本信息
  • 标准号：
    YD/T 835-1996
  • 名称：
    雪崩光电二极管检测方法
  • 英文名称：
    暂无
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    暂无
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1996-04-08
  • 实施日期：
    1996-09-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    范围：本标准规定了带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管光电参数的检测项目及检测方法。本标准适用于带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管的光电参数检测。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位：
    邮电部武汉邮电科学研究院电信器件公司
相关人员
暂无
关联标准