收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11013-1996 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定镉
Methods of analysis for pure silver brazing for electronic devices-Determination of cadmium (spectrophotometric-atomic absorption method)
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
综合(A)
标准化管理与一般规定(A00/09)
技术管理(A01)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 11024-1996
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定锑
-
SJ 20052-1992
KB-84型失效保护的单刀双掷机电控制波导开关详细规范
-
SJ/T 10243-1991
微波集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
SJ/T 10865-1996
盘封管电性能测试方法 频率响应特性的测试方法
-
SJ/T 10140-1991
超导电子学术语
-
GNZ 006.3-1982
设计文件格式
-
T/CSPSTC 3-2017
科技成果产业化评价体系
-
T/TMAC 002.F-2017
技术成果交易评价
-
WB/T 1039-2008
物流定量预测
-
SJ/T 10553-1994
电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
-
DB/T 360-2021
邯郸市葡萄果实套袋技术标准
-
GB/T 37183-2018
腐蚀控制工程全生命周期 风险评价
-
MZ/T 130-2019
外语汉字译写导则:菲律宾语
-
SJ 20024-1992
行波管测试方法
-
DB3301/T 0266-2018
杭州市城管驿站管理规范
-
DB63/T 334.5-1999
青海省乌兰县绒山羊接羔育幼操作规范
-
DB/T 356-2021
邯郸市抗虫杂交棉新品种邯棉 10 号节本增效栽培 技术规程
-
SJ/T 10945-1996
电真空器件用刚玉粉牌号命名方法
-
SJ/T 10924-1996
电子工业用硅酸钾溶液中二氧化硅含量的测定方法
-
SJ/T 10728-1996
低压断路器用陶瓷真空开关管空白详细规范