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SJ/T 10745-1996 半导体集成电路机械和气候试验方法
Mechanical and climatic test methods for semiconductor integrated circuits
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
医药、卫生、劳动保护（C）
医药、卫生、劳动保护综合（C00/09）
技术管理（C01）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
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