收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators基本信息
- 标准号:GB/T 6798-1996
- 名称:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
- 英文名称:Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:1996-07-09
- 实施日期:1997-01-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:暂无
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:暂无
- 引用标准:暂无
相关标准
- 代替标准:GB 6798-1986
- 引用标准:GB 3431.1
相关部门
- 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
- 起草单位:集成电路标委会接口电路组
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 18500.1-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
- DB44/T 633-2009 广东省锂离子电池保护电路板技术要求
- GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
- GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
- GB/T 38447-2020 微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
- SJ/T 11477-2014 IP核交付项规范
- GB/T 15509-1995 半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
- GB/T 15876-1995 塑料四面引线扁平封装引线框架规范
- GB/T 35010.8-2018 半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
- GB/T 34899-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
- T/CIE 067-2020 工业级高可靠集成电路评价 第1部分:AC/DC电路
- GB/T 15877-2013 半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范
- GB/T 9178-1988 集成电路术语
- GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
- GB/T 16525-1996 塑料有引线片式载体封装引线框架规范
- GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
- SJ/Z 11358-2006 集成电路IP核模型分类法
- GB/T 35004-2018 数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
- SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
- GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法