收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage regulator
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
半导体集成电路(L56)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
-
代替标准:
GB 4377-1984
-
引用标准:
GB 3431.1
相关部门
-
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门:
工业和信息化部(电子)
-
起草单位:
全国集成电路标委会模拟分会
相关人员
关联标准
-
SJ 50597/59-2003
半导体集成电路 JB523型宽带对数放大器详细规范
-
GB/T 12842-1991
膜集成电路和混合膜集成电路术语
-
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
-
GB/T 3436-1996
半导体集成电路 运算放大器系列和品种
-
SJ 50597/57-2003
半导体集成电路 JW584/JW584A型可编程电压基准详细规范
-
GB/T 8976-1996
膜集成电路和混合膜集成电路总规范
-
GB/T 20296-2012
集成电路记忆法与符号
-
GB 11494-1989
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7698CP行场扫描及色处理电路
-
GB/T 15879-1995
半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
-
GB/T 35008-2018
串行NOR型快闪存储器接口规范
-
SJ 50597/56-2002
半导体集成电路JW920型PIN驱动器详细规范
-
SJ/Z 11357-2006
集成电路IP核软核、硬核的结构、性能和物理建模规范
-
GB/T 32815-2016
硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范
-
GB/T 11497.2-1989
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HCT 系列的品种
-
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
-
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
-
GB/T 17864-1999
关键尺寸(CD)计量方法
-
GB/T 35009-2018
串行NAND型快闪存储器接口规范
-
SJ 50597/63-2006
半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器详细规范
-
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理