收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料试验综合（77.040.01）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国半导体材料和设备标准化技术委员会
-
起草单位：
峨嵋半导体材料厂
相关人员
关联标准
-
GB/T 5164-1985
可渗性烧结金属材料 开孔率的测定
-
GB/T 34190-2017
电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法
-
GB/T 4060-1983
硅多晶真空区熔基硼检验方法
-
YS/T 455.8-2007
铝箔试验方法 第8部分：铝箔立方织构含量的测定方法
-
GB/T 13388-1992
硅片参考面结晶学取向Ｘ射线测量方法
-
GB/T 8360-1987
金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
-
GB/T 30653-2014
Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法
-
GB/T 1425-1996
贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法
-
GB/T 6522-1986
氧化铝粉末松装密度的测定
-
YS/T 976-2014
煅烧α型氧化铝中α-Al2O3含量的测定 X-射线衍射法
-
GB/T 11108-1989
硬质合金热扩散率的测定方法
-
GB/T 31522-2015
基体与超导体体积比测试 Nb3Sn复合超导线铜与非铜体积比
-
GB/T 13925-2010
铸造高锰钢金相
-
GB/T 25897-2020
剩余电阻比测量 铌-钛（Nb-Ti）和铌三锡（Nb3Sn）复合超导体剩余电阻比测量
-
YB/T 5350-2006
金属材料高温弹性模量测量方法 圆盘振子法
-
GB/T 23605-2020
钛合金β转变温度测定方法
-
GB/T 6608-1999
铝箔厚度的测定 称量法
-
YS/T 1124-2016
磁性溅射靶材透磁率测试方法
-
GB/T 32189-2015
氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
-
GB/T 5249-1985
可渗透性烧结金属材料 气泡试验 孔径的测定
打开设置，点击
执行注册
