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GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料试验综合（77.040.01）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国半导体材料和设备标准化技术委员会
-
起草单位：
峨嵋半导体材料厂
相关人员
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