收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 4070-1996 荧光粉性能试验方法

Test methods for properties of phosphors
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 4070-1996
  • 名称:
    荧光粉性能试验方法
  • 英文名称:
    Test methods for properties of phosphors
  • 状态:
    废止
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    1996-09-09
  • 实施日期:
    1997-05-01
  • 废止日期:
    2016-01-01
  • 相关公告:
    修订公告【关于批准发布《中国地震动参数区划图》等357项国家标准的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    电子学(31) 电子技术专用材料(31.030)
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 电子设备与专用材料、零件、结构件(L90/94) 电子技术专用材料(L90)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 代替标准:
    GB 4070-1983 GB 4072-1983 GB 4071-1983
  • 引用标准:
    GB 602-88 GB 603-88 GB 5838-86
相关部门
  • 主管部门:
    工业和信息化部(电子)
  • 起草单位:
    北京化工厂
  • 归口单位:
    信息产业部(电子)
相关人员
暂无
关联标准
  • GB 11297.10-1989 热释电材料居里温度Tc的测试方法
  • GB 11297.12-1989 电光晶体铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测量方法
  • GB/T 37255-2018 偏置电场下材料热释电系数测试方法
  • GB/T 37403-2019 薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用四甲基氢氧化铵显影液
  • GB/T 4181-2017 钨丝
  • GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
  • SJ/T 10675-1995 电子及电器工业用硅微粉
  • GB/T 4183-2002 钼钨合金丝
  • SJ/T 11512-2015 集成电路用 电子浆料性能试验方法
  • SJ 669-1973 DW-216电真空玻璃主要技术数据
  • GB/T 4073-1996 荧光粉牌号
  • GB/T 29847-2013 印制板用铜箔试验方法
  • SJ/T 3328.7-2016 电子产品用高纯石英砂 第7部分 铬的测定
  • SJ 687-1983 DT-801电真空玻璃主要技术数据
  • SJ/T 11550-2015 晶体硅光伏组件用浸锡焊带
  • SJ 20964-2006 钨37铼合金规范
  • SJ 677-1983 DB-402电真空玻璃主要技术数据
  • SJ 2410-1983 DB-441电真空玻璃主要技术数据
  • GB 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法
  • SJ/T 10753-2015 电子器件用金、银及其合金钎料
用户分享资源

GB/T 4070-1996 荧光粉性能试验方法

Test methods for properties of phosphors
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 4070-1996 荧光粉性能试验方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com