收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 16878-1997 用于集成电路制造技术的检测图形单元规范
Specification for metrology pattern cells for integrated circuit manufacture
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
电子工业生产设备(L95/99)
加工专用设备(L97)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门:
国家标准化管理委员会
-
归口单位:
全国半导体材料和设备标准化技术委员会
-
起草单位:
中国科学院缩微电子中心
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10804-2000
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
-
SJ/T 11215-1999
电子元件自动编带机通用规范
-
GB/T 15509-1995
半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
-
GB/T 38341-2019
微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
-
SJ/T 31245-1994
TCS-810-P1A型电容器处动分选机完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 31219-1994
烧玻杆机完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 31065-1994
24型晶片数控抛光机完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 31102-1994
142型翻版机完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 31308-1994
铝电解电容器自动引线碰焊机完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 31280-1994
隧道式电容器清洗机完好要求和检查评定方法
-
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
-
SJ/T 31078-1994
塑封压机完好要求和检查评定方法
-
SJ 50597/63-2006
半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器详细规范
-
GB/T 33929-2017
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
-
GB/T 17866-1999
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
-
SJ/T 31338-1994
打印头装配线完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 31095-1994
劈刀研磨装置完好要求和检查评定方法
-
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
-
SJ/T 31144-1994
框架绕栅机完好要求和检查评定方法
-
GB/T 14027.6-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种