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GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
Test methods for determining the orientation ofa semiconductor single crystal
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属理化性能试验方法(H20/29)
金属物理性能试验方法(H21)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门:
国家标准化管理委员会
-
归口单位:
全国半导体材料和设备标准化技术委员会
-
起草单位:
峨嵋半导体材料厂
相关人员
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