收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法

Test methods for determining the orientation ofa semiconductor single crystal
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 1555-1997
  • 名称：
    半导体单晶晶向测定方法
  • 英文名称：
    Test methods for determining the orientation ofa semiconductor single crystal
  • 状态：
    废止
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1997-12-22
  • 实施日期：
    1998-08-01
  • 废止日期：
    2010-06-01
  • 相关公告：
    修订公告【】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 代替标准：
    GB 1555-1979 GB 1556-1979 GB 5254-1985 GB 5255-1985 GB 8759-1988
  • 引用标准：
    GB 2477-83
  • 采用标准：
    ASTM F26:1987 （等效采用 EQV）
相关部门
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 归口单位：
    全国半导体材料和设备标准化技术委员会
  • 起草单位：
    峨嵋半导体材料厂
相关人员
暂无
关联标准