收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 11446.8-1997 电子级水中总有机碳的测试方法
Test method for total organic carbon in electronic grade water基本信息
- 标准号:GB/T 11446.8-1997
- 名称:电子级水中总有机碳的测试方法
- 英文名称:Test method for total organic carbon in electronic grade water
- 状态:废止
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:1997-09-01
- 实施日期:1998-09-01
- 废止日期:2014-08-15
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:暂无
- 引用标准:暂无
相关标准
- 代替标准:GB 11446.8-1989
- 引用标准:GB/T 11446.1-1997 GB/T 11446.3-1997
- 采用标准:ASTM D5127:1990 (非等效采用 NEQ)
相关部门
- 起草单位:中国科学院半导体研究所
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
- 归口单位:信息产业部(电子)
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 3389.5-1995 压电陶瓷材料性能测试方法 圆片厚度伸缩振动模式
- SJ/T 11011-2015 电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法
- JB/T 9493.6-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量
- SJ 1589-1980 铈钨杆
- SJ/T 11549-2015 晶体硅光伏组件用免清洗助焊剂
- SJ 1858-1981 电子陶瓷材料滑石中杂质的原子吸收分光光度测定法
- SJ/T 11637-2016 电子化学品 电感耦合等离子体质谱法通则
- SJ/T 11598-2016 电子工业用氢化铝钠
- GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料
- GB/T 15870-1995 硬面光掩模用铬薄膜
- GB 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法
- GB/T 3352-1994 人造石英晶体
- SJ 1856-1981 电子陶瓷材料氧化铝中杂质的原子吸收分光光度测定法
- GB/T 5838.2-2015 荧光粉 第2部分:牌号
- SJ/T 11397-2009 半导体发光二极管用萤光粉
- SJ/T 11392-2009 无铅焊料 化学成份与形态
- SJ/T 11124-1997 电子元器件用环氧系粉末包封材料
- SJ 20894-2003 电子设备零部件包封灌封材料选择与使用
- GB/T 29847-2013 印制板用铜箔试验方法
- GB/T 4314-2017 吸气剂术语