收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则
General specification of X-ray EDS quantitative analysis for EPMA and SEM
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
成像技术(37)
光学设备(37.020)
】
-
CCS分类:
【
仪器、仪表(N)
光学仪器(N30/39)
电子光学与其他物理光学仪器(N33)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
JB/T 5585-1991
透射电子显微镜分辩力测试方法
-
GB/T 15246-1994
硫化物矿物的电子探针定量分析方法
-
GB/T 10155-1988
体视显微镜
-
GB/T 17723-1999
黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
-
GB/T 9246-1996
显微镜 目镜
-
GB/T 17117-1997
棱镜式双目望远镜
-
GB/T 26533-2011
俄歇电子能谱分析方法通则
-
GB/T 17506-1998
船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法
-
GB/T 27668.1-2011
显微术术语 第1部分: 光学显微术
-
GB/T 12085.10-2010
光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验
-
JB/T 9338-1999
座标测量机 技术要求
-
GB/T 17362-1998
黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
-
GB/T 11162-2009
光学分划零件通用技术条件
-
GB/T 22056-2018
显微镜 物镜和目镜的标志
-
JB/T 6841-1993
电子光学仪器术语
-
JB/T 5482-2004
X射线晶体定向仪 技术条件
-
ZB Y 197-1983
双光束紫外-近红外分光光度计
-
GB/T 22058-2008
显微镜 体视显微镜的标志
-
GB/T 20176-2006
表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
-
JC/T 1085-2008
水泥用X射线荧光分析仪