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GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
Gold-plated thickness measurement by SEM
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
成像技术（37）
光学设备（37.020）
】
-
CCS分类：
【
仪器、仪表（N）
光学仪器（N30/39）
电子光学与其他物理光学仪器（N33）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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主管部门：
国家标准化管理委员会
-
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会
-
起草单位：
中国科学院北京科仪研制中心
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