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GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of resolution
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
金属材料试验综合(77.040.01)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属理化性能试验方法(H20/29)
金属工艺性能试验方法(H23)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门:
中国有色金属工业协会
-
归口单位:
全国有色金属标准化技术委员会
-
起草单位:
昆明贵金属研究所
相关人员
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