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GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of resolution
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料试验综合（77.040.01）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属工艺性能试验方法（H23）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
中国有色金属工业协会
-
归口单位：
全国有色金属标准化技术委员会
-
起草单位：
昆明贵金属研究所
相关人员
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