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GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of adhesion基本信息
- 标准号:GB/T 17473.4-1998
- 名称:厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
- 英文名称:Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of adhesion
- 状态:废止
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:1998-08-19
- 实施日期:1999-03-01
- 废止日期:2008-09-01
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:暂无
- 引用标准:暂无
相关标准
- 引用标准:GB/T 3131-1988 GB/T 8170-1987
相关部门
- 主管部门:中国有色金属工业协会
- 归口单位:全国有色金属标准化技术委员会
- 起草单位:昆明贵金属研究所
相关人员
暂无
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