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GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 17473.1-1998
  • 名称：
    厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
  • 英文名称：
    Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
  • 状态：
    废止
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1998-08-19
  • 实施日期：
    1999-03-01
  • 废止日期：
    2008-09-01
  • 相关公告：
    修订公告【】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 2421-1989 GB/T 8170-1987
相关部门
  • 主管部门：
    中国有色金属工业协会
  • 归口单位：
    全国有色金属标准化技术委员会
  • 起草单位：
    昆明贵金属研究所
相关人员
暂无
关联标准