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GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 17473.1-1998
  • 名称:
    厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
  • 英文名称:
    Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
  • 状态:
    废止
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    1998-08-19
  • 实施日期:
    1999-03-01
  • 废止日期:
    2008-09-01
  • 相关公告:
    修订公告【】
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分类信息
  • ICS分类:
    冶金(77) 金属材料试验(77.040) 金属材料试验综合(77.040.01)
  • CCS分类:
    冶金(H) 金属化学分析方法(H10/19) 贵金属及其合金分析方法(H15)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 2421-1989 GB/T 8170-1987
相关部门
  • 主管部门:
    中国有色金属工业协会
  • 归口单位:
    全国有色金属标准化技术委员会
  • 起草单位:
    昆明贵金属研究所
相关人员
暂无
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