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GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料试验综合（77.040.01）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属化学分析方法（H10/19）
贵金属及其合金分析方法（H15）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门：
中国有色金属工业协会
-
归口单位：
全国有色金属标准化技术委员会
-
起草单位：
昆明贵金属研究所
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