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GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
光电子学、激光设备(31.260)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
光电子器件(L50/54)
红外器件(L52)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位:
中国科学院上海技术物理研究所
-
主管部门:
工业和信息化部(电子)
-
归口单位:
信息产业部(电子)
相关人员
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