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GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
光电子学、激光设备（31.260）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
光电子器件（L50/54）
红外器件（L52）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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起草单位：
中国科学院上海技术物理研究所
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
归口单位：
信息产业部（电子）
相关人员
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