收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
光电子学、激光设备（31.260）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
光电子器件（L50/54）
红外器件（L52）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位：
中国科学院上海技术物理研究所
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
归口单位：
信息产业部（电子）
相关人员
关联标准
-
GB/T 13741-1992
激光辐射光束直径测试方法
-
GB/T 41310-2022
视觉模组光电性能的图像式检测方法
-
GB/T 11153-1989
激光小功率计性能检测方法
-
GB/T 15651.4-2017
半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
-
GB/T 7247.9-2016
激光产品的安全 第9部分：非相干光辐射最大允许照射量
-
GB/T 34075-2017
普通照明用LED产品光辐射安全测量方法
-
GB/T 4931-2000
氦氖激光器系列型谱
-
GB/T 13584-1992
红外探测器参数测试方法
-
GB/T 13583-1992
红外探测器外形尺寸系列
-
GB/T 36613-2018
发光二极管芯片点测方法
-
GB/T 18151-2008
激光防护屏
-
GB/T 7257-1987
氦氖激光器参数测试方法
-
GB/T 21548-2008
光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
-
SJ/T 2658.16-2016
半导体红外发射二极管测量方法 第16部分：光电转换效率
-
DB35/T 1193-2011
福建省半导体发光二极管芯片
-
SJ/T 2658.15-2016
半导体红外发射二极管测量方法 第15部分：热阻
-
DB44/T 1895-2016
广东省半导体照明器件色差一致性在线快速评估方法
-
GB/T 36357-2018
中功率半导体发光二极管芯片技术规范
-
SB/T 10570-2010
片猪肉激光灼刻标识码、印应用规范
-
DB35/T 1370-2013
福建省发光二极管芯片点测方法
打开设置，点击
执行注册
