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SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量

Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
基本信息
  • 标准号：
    SJ/T 11212-1999
  • 名称：
    石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
  • 英文名称：
    Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1999-08-26
  • 实施日期：
    1999-12-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本规范适用于石英晶体件激励电平相关性（DLD）的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z9154.1-87的π型网络为基础，适宜 和于该标覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
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