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SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
Measurement of quartz crystal unit parameters Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fl, load resonance resistance Rl and the calculation of other derived v
基本信息
标准号:
SJ/T 11210-1999
名称:
石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
英文名称:
Measurement of quartz crystal unit parameters Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fl, load resonance resistance Rl and the calculation of other derived v
状态:
现行
类型:
行业标准
性质:
推荐性
发布日期:
1999-08-26
实施日期:
1999-12-01
废止日期:
暂无
相关公告:
暂无
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【
电子元器件与信息技术(L)
电子元件(L10/34)
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】
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