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SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算

Measurement of quartz crystal unit parameters Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fl, load resonance resistance Rl and the calculation of other derived v
基本信息
  • 标准号：
    SJ/T 11210-1999
  • 名称：
    石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
  • 英文名称：
    Measurement of quartz crystal unit parameters Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fl, load resonance resistance Rl and the calculation of other derived v
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1999-08-26
  • 实施日期：
    1999-12-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了颇率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC 122一1修改1中定义的负载谐振颇率偏置，频率牵引范围△几:、和牵引灵敏度So
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
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暂无
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