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SY/T 6414-1999 全岩光片显微组分测定方法

Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks
基本信息
  • 标准号：
    SY/T 6414-1999
  • 名称：
    全岩光片显微组分测定方法
  • 英文名称：
    Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks
  • 状态：
    被代替
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1999-05-17
  • 实施日期：
    1999-12-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    修订公告【2015年第2号(总第182号)】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了在偏反光显微镜下，用反射白光和反射荧光测定全岩光片显微组分体积分数的方法。
    本标准适用于暗色泥岩、碳酸盐岩和煤光片显微组分的测定。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
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