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JB/T 8268-1999 静电复印感光体表面缺陷 测量方法

Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process
基本信息
  • 标准号：
    JB/T 8268-1999
  • 名称：
    静电复印感光体表面缺陷 测量方法
  • 英文名称：
    Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process
  • 状态：
    被代替
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1999-08-06
  • 实施日期：
    2000-01-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    修订公告【2015年第6号(总第186号)】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
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