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SJ/Z 2321-1983 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法

Method of analysis by emission spectrum of impurities in Zirconium oxide for use in electronic ceramics
基本信息
  • 标准号：
    SJ/Z 2321-1983
  • 名称：
    电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
  • 英文名称：
    Method of analysis by emission spectrum of impurities in Zirconium oxide for use in electronic ceramics
  • 状态：
    被代替
  • 类型：
    暂无
  • 性质：
    指导性技术文件
  • 发布日期：
    暂无
  • 实施日期：
    2000-07-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
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分类信息
  • ICS分类：
    暂无
  • CCS分类：
    【 电子元器件与信息技术（L） 电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94） 电子技术专用材料（L90） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
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    暂无
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