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GB/T 18032-2000 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法

The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 18032-2000
  • 名称：
    砷化镓单晶AB微缺陷检验方法
  • 英文名称：
    The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2000-04-03
  • 实施日期：
    2000-09-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位：
    北京有色金属研究总院
  • 归口单位：
    全国半导体材料和设备标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准