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SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for level translator基本信息
- 标准号:SJ/T 10804-2000
- 名称:半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
- 英文名称:Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for level translator
- 状态:现行
- 类型:行业标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2000-12-28
- 实施日期:2001-03-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:暂无
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:【 】
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本规范规定了半导体集成电路电平转换器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。
本规范适用于半导体集成电路双极型电平转换器电特性的测试。 - 引用标准:SJ/T 10734-1996 半导体含集成电路文字符号 电参数文字符号
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