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SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS circuits
基本信息
分类信息
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ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
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行标分类:
描述信息
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