收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 2089-2001 电子测量仪器型号命名方法
Type designation for electronic measuring instruments
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
计量学和测量、物理现象（17）
电学、磁学、电和磁的测量（17.220）
电和磁量值的测量（17.220.20）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子测量与仪器（L85/89）
电子测量与仪器综合（L85）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10188-1991
印制板安装用元器件的设计和使用指南
-
SJ/T 10148.1-1991
电气简图的编制方法 术语、分类和编制原则
-
GB/T 18460.2-2001
IC卡预付费售电系统 第2部分:IC卡及其管理
-
SJ/T 10463-1993
电子测量仪器包装 标志 贮存要求
-
SJ/T 10149-1991
电子元器件图形库 半导体分立器件图形
-
GB/T 3386.2-2007
工业过程控制系统用电动和气动模拟图纸记录仪 第2部分：检查和例行试验导则
-
SJ/T 10270-1991
半导体集成电路CF3080型跨导运算放大器详细规范
-
SJ/T 10345.5-1993
寿命试验用表r(1+1/m)数值表
-
SJ/T 10373-1993
电视发射机、差转机可靠性试验方法
-
SJ/T 207.7-2001
设计文件管理制度 第7部分：电气简图的编制
-
GB/T 18216.2-2012
交流1000V和直流1500V以下低压配电系统电气安全 防护措施的试验、测量或监控设备 第2部分：绝缘电阻
-
SJ/T 2658.4-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
-
SJ/T 10441-1993
移动通信选择呼叫高频段和模拟系统设备测量方法
-
GB/T 14069-1993
DDZ-Ⅲ系列电动单元组合仪表 电源箱
-
SJ/T 11499-2015
碳化硅单晶电学性能的测试方法
-
JB/T 9287-1999
相位表、功率因数表和同步指示器
-
SJ/T 1147-1993
电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
-
SJ/T 11320-2006
电子信息产品交易市场资质规范
-
JB/T 8223.9-1999
电工仪表用零部件 止挡
-
SJ/T 10312-1992
电子束暴光机通用技术条件
打开设置，点击
执行注册
