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SJ 20802-2001 集成电路金属外壳目检标准

Visual inspection criteria for integrated circuits metal packages
基本信息
  • 标准号：
    SJ 20802-2001
  • 名称：
    集成电路金属外壳目检标准
  • 英文名称：
    Visual inspection criteria for integrated circuits metal packages
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    暂无
  • 性质：
    强制性
  • 发布日期：
    2001-12-27
  • 实施日期：
    2002-01-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了军用集成电路金属外壳（包括底座和盖板）的外观目的要求。本标准适用于军用集成电路金属外壳的制造和检验，也适用于半导体分立器件金属外壳的制造和检验。
  • 引用标准：
    GB/T 14113-1993 半导体集成电路封装术语
    GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序
    GJB 2438-1995 混合集成电路总规范
    GJB 2440-1995 混合集成电路外壳总规范
相关标准
暂无
相关部门
  • 归口单位：
    信息产业部电子第四研究所
  • 起草单位：
    信息产业部电子第四十三研究所
相关人员
  • 起草人：
    雷剑 陆纯兰 冯玲玲 吴凡 张崎
关联标准