收藏到云盘
纠错反馈
SJ 1603-1980 硅双基极二极管基极间电阻的测试方法
基本信息
-
标准号:
SJ 1603-1980
-
名称:
硅双基极二极管基极间电阻的测试方法
-
英文名称:
暂无
-
状态:
被代替
-
类型:
暂无
-
性质:
强制性
-
发布日期:
暂无
-
实施日期:
2002-05-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
暂无
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
半导体分立器件综合(L40)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 20521-2006
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
-
GB/T 4937.30-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
-
GB/T 4589.1-1989
半导体器件 分立器件和集成电路总规范 (可供认证用)
-
SJ 1607-1980
硅双基极二极管调制电流的测试方法
-
GB 12300-1990
功率晶体管安全工作区测试方法
-
GB/T 4937.201-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
-
SJ 50033/154-2002
半导体分立器件 3DG251型硅超高频低噪声晶体管详细规范
-
GB/T 29827-2013
信息安全技术 可信计算规范 可信平台主板功能接口
-
GB/T 18910.41-2008
液晶显示器件 第4-1部分:彩色矩阵液晶显示模块 基本额定值和特性
-
SJ 50033/155-2002
半导体分立器件 3DG252型硅微波线性晶体管详细规范
-
SJ 1602-1980
硅双基极二极管测试方法总则
-
GB/T 22181.21-2008
等离子体显示器件 第2-1部分:光学参数测量方法
-
GB/T 249-2017
半导体分立器件型号命名方法
-
GB/T 4937-1995
半导体器件机械和气候试验方法
-
GB/T 4937.20-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
-
GB/T 4937.2-2006
半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
-
SJ 50033/157-2002
半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
-
GB/T 18910.22-2008
液晶显示器件 第2-2部分:彩色矩阵液晶显示模块 空白详细规范
-
GB/T 4937.22-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度
-
SJ/T 11586-2016
半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法