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SJ 20786/1-2002 半导体光电组件CBGS2301微型双向光电定位器详细规范

Semiconductor photoelectric assembly Detail specification for miniature duplex photoelectric localizer for type CBGS 2301
基本信息
  • 标准号:
    SJ 20786/1-2002
  • 名称:
    半导体光电组件CBGS2301微型双向光电定位器详细规范
  • 英文名称:
    Semiconductor photoelectric assembly Detail specification for miniature duplex photoelectric localizer for type CBGS 2301
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    暂无
  • 性质:
    强制性
  • 发布日期:
    2002-12-12
  • 实施日期:
    2003-05-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    暂无
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分类信息
  • ICS分类:
    暂无
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 光电子器件(L50/54) 光电子器件综合(L50)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本规范规定了半导体集成电路CBGS2301型光电双向驱动器(以下简称组件)的详细要求。
    本规范适用于组件的研制、生产和采购。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 提出部门:
    信息产业部电子第四研究所
  • 归口单位:
    信息产业部电子第四研究所
  • 起草单位:
    华禹光谷股份有限公司半导体厂
相关人员
  • 起草人:
    陈兰
关联标准
  • GB/T 14137-1993 光纤机械式固定接头插入损耗测试方法
  • GB/T 18311.6-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-6部分:检查和测量 回波损耗
  • GB/T 18311.28-2007 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-28部分: 检查和测量 瞬间损耗
  • GB/T 18310.45-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-45部分:试验 浸水耐久性
  • GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)
  • GB/T 18310.42-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-42部分:试验 连接器的静态端部负荷
  • GB/T 18310.4-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-4部分:试验 光纤/光缆保持力
  • GB/T 7962.21-2019 无色光学玻璃测试方法 第21部分:耐碱稳定性
  • GB/T 18310.17-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-17部分:试验 低温
  • GB/T 18311.4-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-4部分:检查和测量 衰减
  • GB/T 18310.21-2002 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-21部分:试验 温度-湿度组合循环试验
  • GB/T 18310.18-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-18部分:试验 干热 高温耐久性
  • GB/T 18310.48-2007 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-48部分:试验 温度湿度循环
  • GB/T 18309.1-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第1部分:总则和导则
  • GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
  • GB/T 18311.30-2007 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-30部分:检查和测量 单套管多芯光纤连接器抛光角度和光纤位置
  • GB/T 18310.8-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-8部分:试验 碰撞
  • GB/T 18310.9-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-9部分:试验 冲击
  • GB/T 18310.6-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-6部分:试验 锁紧机构抗拉强度
  • GB/T 38257-2019 激光诱导击穿光谱法
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