收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法
Test method for measuring the resistance of package leads
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
微电路综合（L55）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
-
采用标准：
SEMI G25:1989 （修改采用 MOD）
相关部门
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
相关人员
关联标准
-
GB/T 33657-2017
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
-
SJ/T 11705-2018
微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
-
GB/T 15136-1994
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
-
GB/T 3432.4-1989
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种
-
GB/T 13068-1991
半导体集成电路系列和品种 磁敏传感器用系列的品种
-
GB/T 35010.8-2018
半导体芯片产品 第8部分：数据交换的EXPRESS格式
-
GB/T 35011-2018
微波电路 压控振荡器测试方法
-
GB/T 33929-2017
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
-
GB/T 28274-2012
硅基MEMS制造技术 版图设计基本规则
-
DB44/T 1903-2016
广东省线路板特性阻抗测试方法 时域反射法
-
GB/T 38447-2020
微机电系统（MEMS）技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
-
GB/T 17023-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范
-
DB44/T 633-2009
广东省锂离子电池保护电路板技术要求
-
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 4855-1984
半导体集成电路线性放大器系列和品种
-
GB/T 35001-2018
微波电路 噪声源测试方法
-
GB/T 7092-1993
半导体集成电路外形尺寸
-
GB/T 3430-1989
半导体集成电路型号命名方法
-
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
-
GB/T 38762.2-2020
产品几何技术规范（GPS） 尺寸公差 第2部分：除线性、角度尺寸外的尺寸
打开设置，点击
执行注册
